溫濕度試驗(yàn)箱設(shè)備可以準(zhǔn)確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕復(fù)雜的自然狀環(huán)境，適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學(xué)、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測(cè)。
在自然氣候中，溫度（ Temperature ）與濕度（ Humidity ）是無(wú)法分離的環(huán)境條件，而此環(huán)境條件往往隨地理位置不同而出現(xiàn)氣候條件不同，中國(guó)臺(tái)灣屬海島型氣候，終年濕度偏高，但大陸型氣候則日夜變化極大，根據(jù)IEC60721之氣候調(diào)查得知，無(wú)論地理位置如何不同，在溫度與濕度環(huán)境上均存在著四種組合狀態(tài)：包括高溫/低濕（High Temp./Low Humidity）、高溫/高濕（High Temp./High Humidity）、低溫/高濕（low Temp./High Humidity）與低溫/低濕（Low Temp./Low Humidity），在IEC60721與ETSI 300 019歐洲通訊設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范中均有明確之溫濕度氣候圖使用建議與其等級(jí)區(qū)分。溫濕度試驗(yàn)設(shè)備對(duì)各種材料的試驗(yàn)，針對(duì)電子行業(yè)做溫濕度測(cè)試的必要性華威儀器做一下分析：
首先，電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加。人們zui早使用的礦石收音機(jī)是非常簡(jiǎn)單的，隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放相機(jī)、通訊機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)系統(tǒng)、電子計(jì)算機(jī)以及宇航控制設(shè)備，復(fù)雜程度不斷地增長(zhǎng)。電子產(chǎn)品復(fù)雜程度的顯著標(biāo)志是所需元器件數(shù)量的多少。而電子產(chǎn)品的可靠性決定于所用元器件的可靠性，因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品中的任何一個(gè)元器件、任何一個(gè)焊點(diǎn)發(fā)生故障都將導(dǎo)致系統(tǒng)發(fā)生故障。一般說來，電子產(chǎn)品所用的元器件數(shù)量越多，其可靠性問題就越嚴(yán)重，為保證產(chǎn)品或系統(tǒng)能可靠地工作，對(duì)元器件可靠性的要求就非常高、非?？量獭?
其次，電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實(shí)驗(yàn)室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動(dòng)、宇宙粒子、各種輻射等對(duì)電子元器件的影響，導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。
第三，電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從*代電子管產(chǎn)品進(jìn)入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進(jìn)入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。而電子元器件將隨環(huán)境溫度的增高，降低其可靠性，因而元器件的可靠性引起人們的極大重視
所以溫濕度環(huán)境測(cè)試設(shè)備是電子行業(yè)必須購(gòu)買的試驗(yàn)設(shè)備：如恒溫恒濕試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱等
工廠地址：武漢經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)東風(fēng)大道楓樹產(chǎn)業(yè)園A區(qū)一樓廠房
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