高溫老化房控制精度、解析精度及偏差
高溫老化房是針對高性能電子產品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備，是提高產品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業(yè)提高產品質量和競爭性的重要生產流程，該設備廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥、化工等領域.
高溫老化房工作尺寸 可根據(jù)客戶要求尺寸及溫度控制范圍訂制，滿足客戶的要求。
溫度范圍 RT（常溫）～55℃、65℃、75℃、85℃、可選擇
解析精度 0.1℃或0.01℃
控制精度 ±1℃
溫度偏差 ±2℃
波動度 ±1.5℃
升溫時間 平均1～3℃/min。
降溫時間 30min~180min
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